微細組立受託

φ1mm以下の電子部品(半導体・プリント基板等)の通電検査用コンタクトプローブを中心に、クリーンルーム内での、微細部品の抜け止め・固定用各種かしめ、顕微鏡を活用した微細部品の組立を受託(設計・組立・検査)いたします。

組立治工具・評価機器

組立治工具・評価機器

微細組立受託|事例

微細組立受託|事例

抜け止め用各種カシメ

カシメによる”引っかかり”を作成。用途により、カシメ形状を選択可能。

溝形状

溝形状

先端傾斜形状

先端傾斜形状

固定用カシメ

カシメにより、部品同士を固定。 用途により、カシメ形状を選択可能。

溝形状

溝形状

顕微鏡を活用した部品の組合わせ

微小径パイプ部品に数点の部品を挿入。(振動式治具等を活用した仮組も可能)

製品情報

micro01
微細組立受託
コンタクトプローブピン

コンタクトプローブピン

素材:
用途:
通電検査
micro02
微細組立受託
コンタクトプローブピン

コンタクトプローブピン

素材:
用途:
通電検査
micro03
微細組立受託
コンタクトプローブピン

コンタクトプローブピン

素材:
用途:
通電検査